能够对纳米材料、金属、聚合物及半导体进行准确的三维成像和分析。蔡司Axio Imager.Z2m与共聚焦扫描组件的融合可以扩展有助于材料研究的各种基本的观察方式与高精度表面形貌分析结合。
安置地点：山东大学千佛山校区 创新大厦212房间
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